2D‑Röntgenmikroskop für nicht‑destruktive Inspektion von MEMS und Leistungselektronik, Berlin - Frist 12.10.2026

Gesucht wird ein 2‑D‑Röntgenmikroskop zur zerstörungsfreien Prüfung von Bauteilen bis zu mittleren Baugrößen, insbesondere für die Inspektion von eingebetteten Schaltungen im einstelligen Mikrometer‑Bereich sowie von Leistungselektronik‑Montagen mit Kupferschichten bis 6 mm Dicke.