Ausschreibung

FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P, Berlin - Frist 24.07.2026

Beschaffung und Installation eines feldfreien FIB‑SEM Dualbeam‑Systems für Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts‑ und Oberflächenanalyse von III/V‑Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resist‑Materialien, inklusive Raummessungen und optionaler Schulung und Softwaremodule.

Ausführung

Berlin

Frist

Datenbank

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Leistungsbeschreibung

Beschaffung und Installation eines feldfreien FIB‑SEM Dualbeam‑Systems für Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts‑ und Oberflächenanalyse von III/V‑Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resist‑Materialien, inklusive Raummessungen und optionaler Schulung und Softwaremodule.

Id: fc57e897-499f-461d-92f4-4389730e704c