Ausführung
Berlin
Beschaffung und Installation eines feldfreien FIB‑SEM Dualbeam‑Systems für Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts‑ und Oberflächenanalyse von III/V‑Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resist‑Materialien, inklusive Raummessungen und optionaler Schulung und Softwaremodule.
Berlin
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Beschaffung und Installation eines feldfreien FIB‑SEM Dualbeam‑Systems für Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts‑ und Oberflächenanalyse von III/V‑Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resist‑Materialien, inklusive Raummessungen und optionaler Schulung und Softwaremodule.