Ausführung
Berlin
Ausschreibung
FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P, Berlin - Frist 31.07.2026
Ein FIB‑SEM Dual‑Beam‑System wird beschafft, installiert und am Aufstellungsort vermessen, um Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts‑ und Oberflächenanalysen von III/V‑Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resist‑Prozessprodukten durchzuführen.
Frist
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Leistungsbeschreibung
Ein FIB‑SEM Dual‑Beam‑System wird beschafft, installiert und am Aufstellungsort vermessen, um Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts‑ und Oberflächenanalysen von III/V‑Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resist‑Prozessprodukten durchzuführen.
Einordnung
Kategorien
Regionen
Keywords
dualbeamfibhalbleiterinstallationnanostrukturierungsem
Id: 304ffce5-bf7a-42de-b30a-93cafecc5a1d