Rasterkraftmikroskop für hochauflösende Oberflächencharakterisierung, Rheinland-Pfalz - Frist 26.10.2026

Gesucht wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur hochauflösenden Oberflächencharakterisierung und quantitativen Untersuchung mechanischer, adhäsiver, tribologischer und elektrischer Eigenschaften von Partikeln, Fasern, Membranen, beschichteten Oberflächen und biologischen Proben.